В.М. Бардин. Надежность силовых полупроводниковых приборов

В книге рассмотрены вопросы надежности силовых полупроводниковых приборов (СПП). В качестве базовых изделий выбраны диоды ВК2-200 и тиристоры T160 (ВКДУ-150). Основное внимание при изложении материала уделено механизмам отказа СПП в наиболее распространенных режимах эксплуатации СПП. Кратко изложены методические вопросы проведения испытаний СПП на надежность и приведены результаты экспериментальных исследований. Книга предназначена для специалистов, занятых как разработкой, так и применением СПП в различных преобразовательных устройствах. Надежность силовых полупроводниковых приборов.

Издательство: Энергия
Год: 1978
Cтраниц: 96
Формат: pdf
Язык: русский

 

Скачать книгу (46,1 МБ):